XQC系列測檢顯微鏡
XQC系列測檢顯微鏡
測檢顯微鏡是一種應用廣泛的光學儀器。它的主要優(yōu)點是工作距離長，鑒別率、成像清晰，結構輕巧美觀。因此，它是電子、儀表、輕紡等行業(yè)檢查和測量細小疵病及表面狀況的重要工具，它也可用于其它工農(nóng)業(yè)部門。
|
Model
|
XQC-Ⅰ
|
XQC-Ⅱ
|
XQC-Ⅲ
|
XQC-Ⅳ
|
|
總放大倍數(shù)
|
60X
|
80X
|
40X
|
100X
|
|
物方視場
|
Ø2.3
|
Ø1.5
|
Ø4.4
|
Ø1.4
|
|
測量范圍
|
Ø1.6
|
Ø1.2
|
Ø3.2
|
Ø1.2
|
|
最小測量值
|
0.02
|
0.01
|
0.04
|
0.01
|
|
工作距離
|
28
|
28
|
52
|
28
|
|
系統(tǒng)升降范圍
|
40
|
40
|
40
|
40
|